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單點(diǎn)式激光測(cè)振儀LV-S01-S
單點(diǎn)式激光測(cè)振儀LV-S01-S工作距離0.35米-20米,頻率0-3MHz,其利用激光多普勒測(cè)振原理測(cè)量物體沿激光方向的振動(dòng)、位移、速度、振幅等;
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全場(chǎng)掃描式激光測(cè)振儀LV-SC400
二維掃描式激光測(cè)振儀不僅可以準(zhǔn)確的實(shí)現(xiàn)對(duì)物體的振動(dòng)、位移、速度、振幅進(jìn)行分析,可快速得出被測(cè)物振型,還可用于ODS和非接觸式模態(tài)測(cè)試;
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單點(diǎn)式紅外光纖激光測(cè)振儀LV-FS01
紅外光纖單點(diǎn)激光測(cè)振儀LV-FS01可以在不貼反光膜的情況下測(cè)量物體表面的振動(dòng)、位移、速度、振幅,工作距離0m~10m,測(cè)量速度可達(dá)24.5m/s,測(cè)量激光1550nm,人眼安全;
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微小型激光測(cè)振傳感器LV-M100
微小型激光測(cè)振傳感器LV-M100可以通過(guò)USB接口直接接入電腦的,體積比iphone XX PILUS大點(diǎn),價(jià)格便宜,可實(shí)現(xiàn)1000mm近距離振動(dòng)測(cè)試;
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三維全場(chǎng)掃描式激光測(cè)振儀LV-SC400-3D
三維全場(chǎng)掃描式激光測(cè)振儀為非接觸式三維全場(chǎng)模態(tài)測(cè)試光學(xué)產(chǎn)品,可快速自動(dòng)掃描復(fù)雜結(jié)構(gòu)的3D工作變形和特征形態(tài);可進(jìn)行非接觸式三維EMA模態(tài)分析、OMA模態(tài)分析、時(shí)域ODS、頻域ODS分析以及高溫?zé)嵴?,熱模態(tài)試驗(yàn);
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顯微式激光多普勒測(cè)振儀LV-S01-M
顯微式激光測(cè)振儀可以準(zhǔn)確測(cè)量MEMS等微小結(jié)構(gòu)元器件的振動(dòng)和形貌,顯微式激光測(cè)振儀并可通過(guò)顯微成像系統(tǒng)實(shí)時(shí)觀察物體的振動(dòng)狀態(tài)(頻率、速度、加速度、位移)以及可通過(guò)白光干涉測(cè)量物體形貌特征等多維信息。
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掃描式全場(chǎng)紅外自動(dòng)聚焦激光測(cè)振儀LV-FSC500-M
掃描式全場(chǎng)紅外自動(dòng)聚焦激光測(cè)振儀不僅可以準(zhǔn)確的對(duì)各種物體的二維振動(dòng)、位移、速度以及加速度等進(jìn)行測(cè)量,還可以進(jìn)行非接觸式EMA模態(tài)分析、OMA模態(tài)分析、時(shí)域ODS、頻域ODS分析以及高溫?zé)嵴?,熱模態(tài)試驗(yàn);
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激光多普勒測(cè)振儀多點(diǎn)式LV-MP
測(cè)振儀可同時(shí)測(cè)量16個(gè)通道的瞬時(shí)的振動(dòng)和實(shí)時(shí)振動(dòng)模型,并具有FFT頻譜分析功能,還可以用于三維光學(xué)振動(dòng)測(cè)量;多點(diǎn)激光測(cè)振儀是在單點(diǎn)激光測(cè)振儀基礎(chǔ)上升級(jí)的多點(diǎn)測(cè)量、多通道同步、同時(shí)采集、隨意矩陣排列的光學(xué)測(cè)振儀;激光多普勒測(cè)振儀采用非接觸式的光學(xué)振動(dòng)測(cè)量方法只需將激光束對(duì)準(zhǔn)測(cè)量點(diǎn),就可測(cè)量被測(cè)物體的振動(dòng)數(shù)據(jù);
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工業(yè)型激光測(cè)振儀LV-P10
工業(yè)型激光測(cè)振儀LV-P10采用緊湊型光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì),光學(xué)頭和控制箱一體化集成設(shè)計(jì),架設(shè)簡(jiǎn)便,方便攜帶;它用非接觸式測(cè)量方法,目標(biāo)測(cè)量距離在0.35m-10m之間;比較適合于高校以及工業(yè)應(yīng)用。
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激光多普勒測(cè)振儀紅外單點(diǎn)自動(dòng)聚焦LV-AFS01
紅外自動(dòng)聚焦激光測(cè)振儀激光波長(zhǎng)1550nm,工作距離0.35m-20m,頻率可達(dá)25MHz,可自動(dòng)聚焦,激光測(cè)振系統(tǒng)速度、位移信號(hào)雙輸出,可解決受高溫、強(qiáng)磁等影響無(wú)法完成的測(cè)試,可進(jìn)行熱振、熱模態(tài)、超高溫位移等測(cè)試試驗(yàn)。
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